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A22 MicroTec Plus 大量程激光粒度儀，采用聚焦激光散射或激光衍射的原理進(jìn)行樣品顆粒度的檢測(cè)。低檢測(cè)下限可達(dá)0.08µm ，在全球同類產(chǎn)品中都處于先地位。 大量程激光粒度儀A22的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產(chǎn)的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時(shí)獲得過(guò)去三臺(tái)機(jī)器的全部功效，使用更加便捷。

ANALYSETTE 28 動(dòng)態(tài)顆粒圖像分析儀，借助于500萬(wàn)像素的工業(yè)級(jí)雙向遠(yuǎn)心鏡頭以及強(qiáng)大的分析軟件，可快速對(duì)待測(cè)顆粒進(jìn)行粒形分析，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、研發(fā)部門以及實(shí)驗(yàn)室，可替換篩分分析。應(yīng)用領(lǐng)域：玻璃、陶瓷、碳素制品、催化劑、食品、金屬粉末、藥劑、肥料等。